偏光片光学膜相位差轴角度测试仪PLM系列 苏州千宇光学科技供应

PLM-100系列是由苏州千宇光学科技有限公司精心设计研发及生产的一款***相位差轴角度测量仪，该设备可解析多层相位差，是对吸收轴角度、快慢轴角度、相位差、偏光度、色度及透过率等进行高***测量；是结合偏光解析和一般光学特性分析于一体的设备；并提供不同型号，供客户进行选配。

PLM-100S是由苏州千宇光学科技有限公司精心设计研发及生产的一款高精度相位差贴合角测量仪。该设备是对吸收轴角度、快慢轴角度、相位差R0、贴合角、偏光度、色度及透过率等进行高精密测量；是结合偏光解析和一般光学特性分析于一体的设备。

PLM-100S:

测试对象：偏光片/光学膜

整机重量：约6寸

整机尺寸：550mm✖400mm✖650mm

光轴角度精度（相对于标准片）：±0.1°

（重复性精度±0.02°3sigema）

吸收轴测试精度：±0.01°

相位差测量重复性：0.2nm（3sigema）（实测0.1nm以内）

贴合角度重复性精度：≤0.05°

测试波长范围：400nm to 800nm

补偿值测试范围： 0nm to 20000nm

相位差R0（0~20000nm）

吸收轴角度

偏光度，色度透过率（单体，平行，直交）

快轴慢轴角度（配向角）

贴合角

可解析圆偏光

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